高分解能・分析透過電子顕微鏡 (JEM-3010)

150万倍まで観察できる300kv透過型電子顕微鏡であり、この本体にエネルギー分散型X線分析装置とCCDカメラを搭載し、透過像,表面観察,電子線回折,定性・定量分析,元素マッピング等を行うことが出来る。
金属,セラミックス,高分子,鉱物,生物などの観察ができる。

初心者も自分で操作できますが、その場合スタッフの勤務時間中とします。



概 要
【仕様】

機種 : 日本電子 JEM-3010
フィラメント : LaB6
加・ャ電圧 : 100 ,150 ,200 ,250 ,300kV
倍率 : メッシュ像 〜 10,000
     4,000 〜 1,500,000
試料室 : 自動エアロック方式 2段予備排気
試料装填数 : 1個
画像取込み : CCD方式(倍率またはカメラ長,加速電圧値,ミクロン・バー等)

【維持管理担当者】

堀江 雄二 (内線 : 8395) , horie@eee.
七村 和彰 (内線 : 7188) , nanamura@gm.
※ : E-mailは末尾に kagoshima-u.ac.jp をつけてください。

【設置場所】

南九州・南西諸島域共創機構棟 1階 TEM室

【特徴】

透過型電子顕微鏡 (JEM-3010) にエネルギー分散型X線分析装置 (EX-23003B) を組み合わせ、透過像,表面観察,電子線回折,定性・定量分析,元素マッピング等を行うことが出来る。

【利用例】

金属,セラミックス,高分子,鉱物,生物など。

【利用上の注意】

有害な物質または筐体内を著しく汚染するような試料の観察はできない。
観察試料は充分に脱ガス・乾燥させておく必要がある。

[ページの先頭へ戻る]