◎ 利用可能 ◯ 条件付利用可能
| 装 置 名 | 機 種 | 依頼分析 | 装置利用 | 仲介可能 |
| ＣＣＤ単結晶自動Ｘ線回折装置 | Rigaku MARCURY CCD/5.4R | ◎ | ◯ | |
| 動的構造解析装置 | DIP-3000 | ◎ | ◯ | |
| 動的構造解析装置 | DIP-220 | ◎ | ◯ | |
| オフセンター型極低温４軸回折装置 | HUBER 424+511.1 | ◎ | ◯ | |
| 生体高分子構造解析装置 | BRUKER AVANCE400S | ◯ | ◎ | ◯ |
| BRUKER AVANCE500 | ◯ | ◎ | ◯ | |
| 電子線マイクロアナライザー | 島津 EPMA-V6 | ◎ | ◯ | |
| 透過型電子顕微鏡 | フィリップス CM-120 | |||
| 走査型分析電子顕微鏡 | JEOL JSM-6360LA | ◎ | ◯ | |
| プローブ顕微鏡 | JEOL JSPM-5200 | ◎ | ◯ | |
| 誘導結合プラズマ発光分光分析装置 | セイコー電子工業 CIP-AES | ◎ | ◯ | |
| 誘導結合プラズマ発光分光分析装置 | Varian ICP-AES LibertyII | ◎ | ◯ | |
| 電子スピン共鳴装置 | BRUKER ELEXSYS E500 | ◎ | ◯ | |
| 分子量測定装置 | コロナ 114型 | ◎ | ◯ | |
| イオンクロマトグラフ | 東ソー 8010 | ◎ | ◯ | |
| 走査型電子顕微鏡 | JEOL JSM-820 | ◎ | ◯ | |
| 元素分析装置 | Parkin Elmer 2400II CHN | ◯ | ◎ | ◯ |
| 分光光度計 | 島津 UV-300 | ◎ | ◯ | |
| 分子細胞情報解析システム | Carl Zeiss LSM-510-1 | ◎ | ◯ | |
| 液体クロマトグラフ質量分析装置 | Waters Integrity Systems | ◎ | ◯ | |
| 誘電体損測定装置/td> | Ando TR-1C | ◎ | ◯ | |
| 誘電体測定装置/td> | 岩通 SS5802 | ◎ | ◯ | |
| 走査プローブ顕微鏡 | セイコーインスツルメンツ S | ◎ | ◯ | |
| ＬＣＲメータ | Ando AG-4311 | ◎ | ◯ | |
| 示差走査熱量計 | Rigaku DSC-8230B(TAS100) | ◎ | ◯ | |
| 蛍光Ｘ線分析装置 | Rigaku RIX-3000 | ◯ | ◎ | ◯ |
| 全自動強力Ｘ線回折装置 | Rigaku RINT-2500V | ◎ | ◯ | |
| 生体成分分離分析装置 | Amersham Pharmacia Biotech FPLC | |||
| ＤＮＡシーケンサ | LI-COR Corporation Model 4000L | ◎ | ◯ | |
| 旋光計 | 日本分光 P-2300 | ◎ | ◯ |
《条件付きで共同利用可能》
条件：利用料金が必要、マシンタイムの空きがあれば利用可能、依頼分析はしない、
など核装置によって制限があります。
詳しくは、機器運用責任者とご相談いただくことになります。